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非標(biāo)表征分析系統(tǒng)
非標(biāo)XPS / UPS / AES能譜分析系統(tǒng)
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商品詳情
儀器介紹:
一個非標(biāo)XPS / UPS / AES能譜分析系統(tǒng)可根據(jù)用戶的實驗需求,采用不同能量的激發(fā)源,以獲得樣品表面不同深度的各類信息,如元素種類和含量,化學(xué)環(huán)境和價態(tài)研究領(lǐng)域:
1、微電子領(lǐng)域:由于表面或界面的性質(zhì)對元器件的性能有非常大的影響,因此需要對材料及工藝過程進(jìn)行質(zhì)量控制及分析,注入和擴散分析。
2、催化領(lǐng)域:材料表面化學(xué)反應(yīng)和活性,催化劑中毒機理研究。
3、凝聚態(tài)物理:鍵結(jié)構(gòu),表面電子態(tài),晶體能帶結(jié)構(gòu),吸附,脫附,遷移,擴散。
4、薄膜領(lǐng)域:超導(dǎo)膜,太陽能電池膜、層間擴散,離子注入。
 
備案號:京ICP備20032097號